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納米CT數(shù)字射線主要包括計(jì)算機(jī)射線照相(CR)、X射線數(shù)字成像(DR)以及工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(CT)等數(shù)字化射線成像新技術(shù)。
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納米CT相對(duì)于現(xiàn)今仍然普遍應(yīng)用的射線膠片照相(RT)技術(shù),X射線數(shù)字成像(DR)實(shí)時(shí)性強(qiáng)、檢測(cè)速度快、探測(cè)效率高、X射線輻射劑量小,曝光條件易于掌握。DR可以方便地對(duì)圖像進(jìn)行數(shù)字化存儲(chǔ)和后處理,在線實(shí)時(shí)地對(duì)生產(chǎn)工件結(jié)構(gòu)介質(zhì)不連續(xù)性、結(jié)構(gòu)形態(tài)以及介質(zhì)物理密度差異等質(zhì)量缺陷進(jìn)行無損檢測(cè),被廣泛地應(yīng)用汽車、航空航天、國(guó)防工業(yè)、電子、鑄造焊接、壓力容器等領(lǐng)域無損檢測(cè)及評(píng)估,在工程質(zhì)量監(jiān)督和產(chǎn)品質(zhì)量保證方面發(fā)揮著極其重要的作用。
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